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在液晶显示器的制造过程中,源极信号线断开的状况难以避免,其原因多种多样,工厂防治手段需因地制宜。本文从当前主流的G8.5代TFT-LCD(Thin film transistor liquid crystal display,薄膜晶体管液晶显示器)生产线实际生产问题出发对当前液晶显示器生产过程中的断线不良的改善进行深入探讨,从异常分析手法、异常品数据收集、制程设备源头分析、检测方案优化、修复工艺参数优化、及整体生产线流程的完善等多角度出发,展开改善活动实践。建立了实验室标准化的异常分析手法及流程,可快捷锁定断线发生的制程区间,并通过对断线解析数据的分析锁定断线的主要成因为LCVD(Laser chemical vapor deposition,激光化学气相沉积法)修复失败;对异常源头面的分析判定及真因点的调查提出了创新性的办法,监控厂内关键参数或指标性的异常提前预估后段的不良发生状况,提前预警断线的发生;优化了阵列厂针对断线的检出方案及修复手法,避免检出的异常持续发生;运用品质改善工具明确当前断线改善的重点在镭射激光头的质量管理、长膜修复工艺及出货前检测的流程卡关。通过DOE(design of experiments,实验设计)论证提出了一套可行的修复效果评估手法及工艺参数优化方案,长膜镭射激光能量、长膜速度及氩气流量为工艺参数管控焦点,为工厂断线不良的分析监控及改善指明了方向。本文大部分研究成果已成功在工厂内生产实践,将minitab响应优化器优化后的长膜关键参数:长膜速度3.6?m/s、氩气流量为53sccm及镭射能量ATT值为91投入生产,成效稳定,有效降低工厂断线的良率损失,提升产品品质与良率,取得可观的经济效益。