嵌入式Flash存储器作为便携式设备的基础,其在存储器市场占据较大的市场份额。由于测试成本是影响芯片成本的重要因素,研究减少Flash存储器测试成本的方法有利于降低Flash存储器的成本。本文作者提出了改进的March-like算法,有效提高了故障测试的效率以及故障覆盖率,降低了测试成本,并设计了相应的Flash的内建自测试电路。该算法采用棋盘格向量,使每个存储单元可以最大程度受到周围存储单元编程操作的干扰,有利于激活存储单元的累积故障,从而检测到故障单元。算法在爱万德公司机型为T5781的测试机台上进行了测试验证。验证结果表明,相较于March-like算法,改进的March-like算法有效提升了33%的效率。在对160颗晶片的实测中,在采用March-like算法测试时,并未检测出故障晶片,而在采用改进的March-like算法时,则成功检测出3颗故障晶片,进一步证明了该算法的有效性。本课题是基于改进的March-like算法完成内建自测试电路的设计的。该测试电路主要由三大主要功能模块构成,它们分别是正常工作模式模块、测试工作模式模块和故障测试模式模块。本课题完成了该电路的Verilog设计、综合及完整的物理设计。本设计采用55nm的CMOS工艺,占用芯片面积为15557um~2,相较于应用该测试电路的Flash电路,Flash BIST所占用的面积大概占Flash电路的11%左右。本设计已成功应用于一量产芯片,产品即将流片。