阵列基板行驱动技术(Gate Driver on Array)或简称GOA技术，是直接将栅极驱动电路(Gate Driver ICs)制作在阵列(Array)基板上，来代替由外接矽晶片制作的驱动晶片的一种技术。在TFT-LCD液晶面板上运用了GOA技术的液晶面板叫GOA液晶。电性能检测工序是GOA液晶面板产品生产过程中的一个重要检测环节。这道工序处于组模之前、液晶盒制造完成之后，它可以减少对偏光片、驱动芯片的浪费。目前GOA液晶电性能检测设备品种规格多，相应的测试硬件和软件不通用，测试设备一致性差。为此本文根据全屏点亮法开发了一套GOA液晶面板电性能检测系统，在不改变检测平台的硬件配置前提下，通过软件的设置来满足企业的个性化要求，使检测工艺硬件配置统一，达到降低成本、便于管理的目的。　　基于系统通用的目的，本文提出了一种上位机与下位机之间的数据交换技术。这一技术确保硬件系统具有很强的通用性，可以对所有型号GOA液晶面板进行电性能检测。在硬件系统设计时预留一些端口以满足系统拓展。上位机软件界面具有良好的人机交互性，在不更改硬件的前提下，通过软件进行设置就可以对不同型号的GOA液晶面板进行电性能检测。　　上位机软件系统是采用微软的Microsoft Visual C++6.0编程工具与TeeChart5插件相结合的技术而编写的软件。两者的结合使得上位机软件系统具有很强的人机交互性，建立工程更加明了、简单、更易操作且容易更新等各种优点，使操作人员通过上位机的参数设置产生满足不同厂家不同型号的GOA液晶面板的驱动信号的要求。　　下位机硬件平台采用STM32单片机与FPGA双处理器技术，STM32单片机作为下位机的控制模块芯片，主要负责SD卡数据的读取、与FPGA及串口的通信、按键的控制及OLED的显示控制等。而利用FPAG的高速度性、并行操作和可扩展性等，控制的多达20个波形驱动输出端口，每个输出端口相互独立。并且每个端口采用FPGA与高速DA、运放等相结合技术，可以通过设置产生电压达±30V、速度us级的输出波形。运用这些技术设计的硬件平台可以在不改变硬件的条件下，对各种不同型号的GOA液晶面板进行电性能检测，具有很强的通用性。　　最后，采用SD卡存储技术实现上位机软件系统与下位机硬件平台进行数据交换。由于SD卡具有体积小、重量轻，而且还有很大的存储量、传输数据的速度快、很好的扩展型、很高的安全性，使得本系统具有非常好的灵活性，适合企业的大规模应用。