高选择性的SiO<,2>/Si及PolySi干法腐蚀工艺技术研究

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高选择性的二氧化硅对单晶硅及多晶硅的干法腐蚀工艺在半导体加工领域占有重要地位.传统的高选择性干法腐蚀工艺需要频繁的清洗反应腔,该文通过大量实验找出了一种选择性即高、又不需要经常清洗反应腔的SiO<,2>干法腐蚀工艺.工艺选用CHF<,3>和SF<,6>作为主要进给气体,通过调节CHF<,3>和SF<,6>的流量来相应的控制等离子体中有效的F:C比率.工艺策略采取两步法:第一步采用F:C比率较高的工艺条件腐蚀大块SiO<,2>;第二步采用F:C比率较低的工艺条件选择性腐蚀SiO<,2>/Si及PolySi接触界面.由于每一批腐蚀的第一步可以有效的去除上一批腐蚀的第二步在反应腔表面上所沉积的聚合物,所以该种方法可以保持反应腔的清洁,从而保证了稳定的低污染的工艺条件.
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