随着大规模集成技术(VLSI)的快速发展,一个多处理机系统可能包含成百上千甚至成千上万个处理机,且在系统的运行过程中,某些处理机可能发生故障.这促使这篇文章的焦点聚集在多处理机系统的可靠性和诊断度问题上.我们分别用组合概率和随机过程建立多处理机系统的子系统可靠性度量指标,并给出实证分析.论文揭示了从微观角度下处理机的故障诊断度到宏观视野下多处理机系统的子系统可靠性能分析的方法以及离散问题连续化处理模式.在第二章中,计算(n,k)-星图基于子系统的可靠度时,我们应用由局部到整体的思想,通过一个节点的故障概率计算得到整个系统的故障概率.基于这个想法,我们利用多除少补原理求得(,n,k)-星图可靠度的上界,下界和近似值;并通过对比这三个值,我们发现(n,k)星图可靠度的近似计算更简便高效.在第三章中,我们的想法是用子系统持续时间来反映系统的可靠性.基于这一想法,分别在点和边故障模型下,我们按不同分划方式计算得到了(n,k)-星图的子系统平均故障到达时间(MTTF).在计算(n,fk)-星图的子系统平均故障到达时间的过程中,我们利用矩阵论对时间模型:Ti重新给出了更简明的证明;并且当系统按任意维分划时,我们解决了能够导致系统从状态Si转移到状态Si+1的点数的计算问题.通过对比不同分划方法所得到的Ti的值,我们得出:当使用按任意维分划的方法时,计算得到的可靠度更高.在第四章中,我们分析得到了(n,k)星图在PMC模型下的g-好邻条件诊断度为进一步,(n,k)-星图在MMM*模型下的g-好邻条件诊断度为(?)