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硫酸钠是浮法玻璃生产过程中常用的澄清剂，但其很难完全分解，进入锡槽后，玻璃中残余的硫酸盐在还原气氛下还原为硫化物，可能造成玻璃缺陷和锡耗的产生。为解决硫污染的危害，提高我们对浮法玻璃成型过程中多相体系氧化还原反应的认识，需要研究硫在成型过程中价态变化和其扩散机理。本文利用X射线吸收近边结构（XANES）光谱研究玻璃中硫价态的变化，利用二次离子质谱仪（SIMS）研究硫以及其他离子在玻璃中含量的分布，分析硫在成型过程中的扩散机制。研究发现，熔化过程中玻璃中硫的主要存在形式为S6+，残余的S4+可以忽略不计；进入锡槽后，由于氢气和锡液的还原作用，玻璃表面的硫发生还原反应，生成少量S2-，但主要还是以S6+的形式存在；S2-在锡槽温度650℃时开始出现，750℃含量最大，在硫的K边XANES光谱上表现为2476.3eV左右的宽峰和2473.7eV处较尖锐的峰，随着温度的增加，玻璃中的S2-含量开始降低，硫化物开始变得不稳定，逐渐离开玻璃。通过实验和理论分析，首次确定了锡槽中的玻璃表面存在Sn-S键（2468.8eV与2473.1eV之间的肩峰）和Si-S键（2473.7eV处的尖峰），当玻璃中存在一定量的铁（镍）时玻璃表面会出现Fe-S键（Ni-S键），吸收峰位于2469.5eV（2469.8eV）处，随着铁（镍）含量的增加，Fe-S键（Ni-S键）逐渐替代Si-S键。通过对玻璃表面硫扩散的理论假设，本文提出四种S6+和S2-分布的数学模型，并根据SIMS测得的玻璃上下表面硫的含量分布对模型进行验证，发现S2-的含量在计算硫的扩散时不可忽略，Erf数学模型最符合实际S6+和S2-的含量分布；计算结果表明玻璃下表面硫的扩散系数大于上表面。根据玻璃中阳离子含量的测试结果，本文原创性地构建了浮法玻璃上下表面还原层模型：将浮法玻璃上表面的还原层分为富硅层、富碱土金属层、富碱金属层三层；下表面还原层分为：富锡层、富碱土金属层、富碱金属层，另外还发现还原层的厚度与阴离子S2-的厚度相符合。另外还发现含铁的钠钙硅玻璃在空气和还原气氛下热处理后表面都形成辉石类晶体，但其形貌并不相同，由此可以推断含铁的辉石类晶体的来源：针状晶体来源于于锡槽，树枝状来源于熔窑的可能性比较大；锡中加入一定量的铁可以减少渗锡量，但会降低玻璃的透过率，还可能在下表面产生的类“十字形”玻璃缺陷，其形成与锡液中形成Fe2O3晶体有关。