随着科学技术特别是微电子技术的迅猛发展，电路的规模和复杂性都急剧上升。工业过程的模拟特性和微芯片的使用，使得数模混合电路的应用有着巨大的空间。数模混合电路在设计和测试中的可测试性问题成为一个迫切的研究课题。近年来出现的DES理论为数模混合电路的可测试性提供一种的系统化的处理方法。本文在DES理论的框架下对数模混合电路可测试性中的几个关键问题进行研究，并针对最小测试集的求取算法进行了理论上的探讨。 本文的主要工作如下： (1)对数模混合电路的数学模型进行了研究，并对其可行性进行了验证。这样使得数字和模拟电路能够在一个统一的数学框架中进行可测试性分析和后续处理。 (2)编写了一套基于DES理论的电路测试的演示软件，实现了对被测电路的可测试性判断、故障覆盖率和最小测试集求取的算法，能够实现对电路测试的各项功能。 (3)以可编程逻辑器件为核心进行了一些典型数字电路的故障模拟仿真试验，并建立相应的电路故障测试集数据库，为这些电路的可测试性研究提供数据。 (4)针对目前电路最小测试集求取算法的一些不足，提出了一种利用模拟退火策略的组合优化的算法，并对这种算法进行了一些理论上的探讨。