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白光干涉法是一种具有亚纳米级精度及毫米级测量范围的方法,在显微三维测量领域中具有不可替代的地位。现有的白光干涉仪在测量时需要通过手动调焦查找干涉条纹并设置扫描行程的上下限,费时费力,难以满足工业生产中的自动化测量需求。针对这个问题,本文对自动对焦、背景建模、相移干涉等技术深入研究,提出了一种具有自动查找条纹、自动设定扫描行程功能的三维测量新方法。该方法包括一种基于四叉树分块的自动对焦技术用来获取清晰的图像,和一种基于Vi Be条纹辨识的规划策略,以自动确定扫描干涉的行程。论文在相关算法研究的基础上搭