确定光子晶体光纤轴向方位角的侧视光强特征法研究

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光子晶体光纤轴向方位角的确定在光纤器件的加工制作中具有重要的意义。采用侧边抛磨技术,对光子晶体光纤不同的侧面进行抛磨加工,理论研究表明:随着光子晶体光纤被侧边抛磨位置、深度的变化,其内部传输光特性也会发生变化,可以用于制作具有不同性能的光学器件。在光子晶体光纤器件制作中,其中一项重要的技术就是要能够精确的确定光子晶体光纤的轴向方位角,本文基于侧视光强法原理进行了实验研究和理论计算,提出了一种高精度确定光子晶体光纤轴向方位角度的方法—侧视光强特征值判别法。实验研究了六边形PCF、Hybrid、LAM-20等三种结构的光子晶体光纤,在光子晶体光纤的侧视图像中,发现它们各自具有特殊的光强分布特征,对每一种光强晶体光纤,其光强分布特征随着光子晶体光纤轴向方位角度的变化而变化。实验研究结果表明,随着光子晶体光纤绕轴向方位角的旋转,其透射光强图像的光强特征值呈现周期性变化,与光子晶体光纤自身空气孔结构的周期性特征具有对应的关系,通过提取光子晶体光纤在不同轴向方位角度的光强特征值,发现其侧视光强特征值出现周期性的极大值,在实验上验证了光子晶体光纤轴向方位角度与侧视光强特征值之间存在对应的关系,据此提出确定实现光子晶体轴向方位角的方法-侧视光强特征值法。借助Tracepro仿真软件,对三种光子晶体光纤进行了光线追迹仿真计算研究,采用侧视成像法,在理论上验证了光子晶体光纤侧视光强特征的存在,并且随着光纤绕轴向的旋转,其光强特征值也发生变化,提取随轴向方位角度变化的光强特征值,发现光强特征值的变化也具有周期性变化规律,而且在光强特征值随轴向方位角度变化曲线中,光强特征值也出现周期性的极大值,对比模拟仿真结果与实验结果,确定了光子晶体光纤在特定的轴向方位角位置处的光强特征值特征,可以用于高精度确定光子晶体光纤位于某些特殊轴向方位角度位置,验证了侧视光强特征值法的正确性。侧视光强特征值判别法具有无损、在线、非接触确定光子晶体光纤轴向方位角度的特性,可以高精度的确定光子晶体光纤是否处于某些特定的轴向方位角度位置,定轴精度可达到1°。
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