X射线角分类机是以X射线为手段,依据布拉格方程,对晶体进行分析的光机电一体化精密仪器。角分类机的测量精度直接决定着晶片的质量,这就使数据的测量精度和测量误差成为角分类机设计的重中之重。本文针对这一点,设计了基于ARM的高速数据采集系统,在短时间内采集大量数据,从而提高数据的测量精度,降低误差。此外还设计了应用软件机界面,使测量结果更加直观。在进行系统开发前,必须要先搭建开发平台。在宿主机中安装虚拟机VMware+Linux操作系统之后,再配置程序编译环境,通过串口线、网线、wiggler小板就可以与开发板建立起联系了。驱动程序、应用程序的调试以及嵌入式Linux内核裁减都是在这个基础上进行的。本文设计的高速数据采集系统主要包括系统硬件(基于型号为THS10064的高速ADC芯片),采集驱动程序,数据处理程序,以及应用软件机界面四个部分。模拟信号通过采集电路板的硬件滤波并转换为数字信号后,通过DMA传输到存储器。处理器芯片S3C2440A的工作频率为400MHz,能够快速的对数据进行处理。首先对数据进行数字滤波,然后将滤波后的数据送给LCD显示,当需要抓取峰值时,将引发峰值寻找程序。被寻找的峰值及对应的角度值会在应用软件机界面中显示出来。