本文研究并设计了一种可在复杂电磁环境下测试受试设备（Equipment UnderTest, EUT）辐射发射的测试系统。利用信号处理技术对所接收到的信号进行处理，可以在被环境噪声污染的地方进行EUT的电磁辐射发射测试。利用信号的相关性分析计算出环境噪声的相关性，提取出噪声的时频特性，并由给出的阈值函数对噪声滤除或者衰减，得到EUT的实际电磁辐射信号。测试方法使得EUT不必进入暗室即可进行电磁辐射发射测试，既节省了测试费用又方便了受试设备的辐射发射测试。系统运行结果证明此方法可在9kHz～2.7GHz的频段内有效衰减或滤除环境噪声。论文的主要研究内容和创新点归纳如下：1、针对复杂电磁环境下进行辐射发射测试存在的环境噪声对测试精度的影响，介绍了现有的一些解决方案，比如分时测量和Marino. Jr提出的同步测量方法，并分析了现有方法的不足，给出了一种可以有效衰减或滤除环境噪声的测试系统的硬件构成和软件设计；2、研究了非平稳噪声时频统计分析算法、自适应滤波在滤除环境背景噪声中的应用；分析了谱相关算法在电磁干扰源定位中的应用，并实现了电磁干扰（Electromagnetic Interference, EMI）定位；3、研究了一种改进的虚拟暗室测试方法，即分时测量和同步测量相结合的方法，实验证明，这种方法可以降低背景噪声的时间不均匀和空间不均匀对测试结果的影响。