近年来，由于经济高速发展，环境污染也随之而来，绝缘子污闪事故也呈逐年递增趋势，对我国的电力系统造成很大的经济损失，如今国内外对绝缘子污秽闪络特性、污秽等级划分等方面都有较深入的研究，但是针对于绝缘子各种污秽成分的影响分析较少。本文试验研究了各种典型污秽成分的特性，分别分析研究了可溶性和不溶性污秽成分对绝缘子闪络的影响，提出了典型污秽成分的有效污秽度表征关系，建立了有效污秽度与污闪电压梯度的关系式，对防止外绝缘闪络事故具有一定参考价值。　　本文以典型悬式瓷和玻璃绝缘子为研究对象，分别用NaCl、NaNO3、Na2SO4、KNO3、NH4NO3、Mg(NO3)2、MgSO4、CaSO4等典型可溶盐与高岭土、硅藻土、二氧化硅、氧化铁、氧化铝、碳等不溶物对绝缘子染污，进行了大量的人工污秽试验。根据试验结果分析了各成分对绝缘子污闪的影响的共性与差异。不同污秽成分因溶解度，电导率以及可能发生的反应等物理化学因素对绝缘子闪络造成不同的影响。　　论文通过对各种单一可溶盐的闪络电压梯度与盐密的关系进行拟合，得到同类型的盐，如硝酸盐和易溶性硫酸盐，对绝缘子闪络的影响结果相近，主要表现在相同盐灰密条件下，同类型成分对应的闪络梯度相差不大，且闪络梯度随盐密的变化趋势基本一致。　　而不同的不溶物类型以及颗粒直径对绝缘子的闪络也会产生不同影响，其主要是通过影响绝缘子表面污层的吸水、保水与释水过程，间接影响绝缘子表面污层电导率，从而影响绝缘子的闪络梯度。　　结合可溶物与不溶物下绝缘子闪络梯度的拟合结果，以及参考自然环境下，四种典型地区绝缘子表面污秽成分的占比，提出了绝缘子闪络梯度与有效污秽度的表征关系。