密码芯片作为密码算法的载体,被广泛应用于生活中的诸多方面。然而,密码芯片在运行加解密算法时会泄漏一些物理信息,如果这些物理信息被攻击者加以利用就会将密钥信息破解。由于功耗攻击实施过程简单并且实施成本低,近年来已经成为密码设备安全性的主要威胁。对密码芯片安全性能的评估已变得尤为重要。.功耗攻击的成功与否与采集的样本的数量有密切关系,随着样本量的增加,攻击成功率也随之增加。但是,复杂芯片攻击成功所需的样本量可能达到百万级以上。本文通过对不同样本量下的攻击成功率进行统计分析,得到了攻击成功率与样本量之间的关系,据此构建了样本量与成功率之间的关系模型;进而提出了一种密码芯片安全评估方法。该方法在较少样本攻击不成功时,可以较准确地预测攻击成功时所需要的样本量,从而有效评估芯片的抗攻击能力。本文以某款SOC芯片为目标板,利用功耗攻击中较为常用的DPA(Differential Power Analysis)对其进行功耗分析攻击,分别对8位重复和16位重复密钥重复下得到的功耗数据进行分析,构建了样本量与成功率关系模型。对32位重复密钥,采集3000组功耗数据代入模型进行分析,预测结果为在样本量为20686时可以成功分析出密钥信息。实验结果显示,在样本量为20000时,攻击成功率已达到98%,足以破解密钥。