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设计并制作了２００～１１００ｎｍ的光响应测试系统，该系统工作稳定可靠，并可消除光源拌动和突发性光源对测试的影响。
200～1100nm光响应测试系统的研制
【摘 要】
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设计并制作了２００～１１００ｎｍ的光响应测试系统，该系统工作稳定可靠，并可消除光源拌动和突发性光源对测试的影响。
【机 构】
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清华大学微电子学研究所
【出 处】
：
半导体光电
【发表日期】
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2000年4期
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