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CMOS负阻单元逻辑电路及其发展前景
CMOS负阻单元逻辑电路及其发展前景
来源 :微纳电子技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lz251667032
【摘 要】
:
在回顾了多值逻辑(MVL)电路的优点、分析了共振隧穿器件(RTD)电路的特点和比较了各种类型负阻器件性能的基础上,提出了利用CMOS型负阻单元作为基础性器件设计并实现CMOS型逻辑电
【作 者】
:
郭维廉
牛萍娟
李晓云
刘宏伟
谷晓
毛陆虹
张世林
陈燕
【机 构】
:
天津工业大学信息与通信工程学院,天津大学电子信息工程学院,中国科学院半导体研究所
【出 处】
:
微纳电子技术
【发表日期】
:
2010年8期
【关键词】
:
CMOS工艺
多值逻辑(MVL)
共振隧穿器件(RTD)
负阻器件
逻辑电路设计
自锁特性
CMOS process
multiple-valued logi
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在回顾了多值逻辑(MVL)电路的优点、分析了共振隧穿器件(RTD)电路的特点和比较了各种类型负阻器件性能的基础上,提出了利用CMOS型负阻单元作为基础性器件设计并实现CMOS型逻辑电路的新概念,并指出了此研究领域的几个重点研究内容和方向。
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