高性能处理芯片的测试和可靠性设计关键技术

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在集成电路(IC)芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高的大趋势下,为尽量减少芯片制造中产生的故障导致信息系统失效,对芯片故障快速可靠精确测试及容错的需求愈加提高。测试和可靠性设计是数字IC质量保障的主要技术手段,主要包括:在芯片内部设计测试电路(可测试性设计), Under the general trend that integrated circuit (IC) chips are widely used in electronic information systems and product quality requirements are increasing day by day, in order to minimize information system failures caused by chip failures, there is a growing demand for fast, reliable and accurate testing of chip failures and fault tolerance improve. Test and reliability design is the main technical means of digital IC quality assurance, including: the design of the test circuit in the chip (testability design),
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