【摘 要】
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报道了掠入射软X光平面镜反射率标定实验.实验利用北京同步辐射装置(BSRF)-3W1B束线及反射率计靶室,在束流35 mA～110mA、贮存环电子能量2 GeV专用光运行模式下,在50 eV～850eV能
【机 构】
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中国工程物理研究院激光聚变研究中心高温高密度等离子体物理国家重点实验室,中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室
【基金项目】
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国家高技术研究发展计划(863计划);
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报道了掠入射软X光平面镜反射率标定实验.实验利用北京同步辐射装置(BSRF)-3W1B束线及反射率计靶室,在束流35 mA～110mA、贮存环电子能量2 GeV专用光运行模式下,在50 eV～850eV能区分四个能段,进行了5°掠入射Ni平面镜反射率标定实验.标定过程中用高灵敏度无死层的硅光二极管代替X射线二极管作探测器,输出信号提高2～3个量级,可标定能区从150eV～270 eV拓展到50 eV～850 eV,给出了完整的 5°Ni平面镜反射率标定曲线.最后把实验数据与理论计算作了比对并进行了分析.
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