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《食品科技》讯，美国科学家研制出一种全新的集成电路检测器，它能够测出某种食品的变质时间，从而使食品保质检测更加科学，费用更为节省。该新装置由传感器和扫描器组成，其能量来自扫描器发出的无线电波。传感器的主要材料是铅，包装食品时，将它一同置于食品盒内。在对食品进行保质检测时，检测人员只需将扫描器对准食品发射无线电波，就像用光扫描器扫描商品上的条形码一样，扫描器发出的无线电波信号会使食品产生震动，同时发生乐谱波。