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在已证实新搭建的正电子无损检测(NDT)装置系统的可行性和可靠性基础上,为了深入的探讨该套NDT装置在辐照损伤样品中的应用,测试了国产及进口哈氏N合金的Ni+10离子辐照损伤.对比3种不同样品,发现随着辐照剂量的增加,进口电解抛光样品的正电子平均寿命及S参数变化相对小,表明辐照产生的缺陷较少,该样品具有较好的抗辐照性能.