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提出了基于狭长CsI(Tl)闪烁体和面阵CCD器件,采用光纤和光纤面板进行光耦合及传输,以扇形束线阵扫描方式实现对X射线探测与成像的工业X-CT系统探测器方案·基此,通过物理分析及数学建模,利用Matlab模拟研究了X光能量小于450keV时狭长CsI(Tl)闪烁体的发光效率等性能指标·研究结果表明:当光电吸收截面μph和康普顿吸收截面μc分别为0.000313和0.0000295、反射层反射系数R和衬底反射系数Rs分别取0.95和0.8、荧光线性吸收系数σ取0.000222μm-1时,得到狭长CsI(Tl)闪烁晶体的长度l、高度h和宽度w取值范围分别是926~4512μm、242~5000μm和242~5000μm的结论·在此范围内,既可使闪烁晶体有较好的空间分辨率又可获得最高的发光效率·