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目的:利用原子力显微镜(AFM)直接观察技术,检测α粒子辐射对质粒DNA的损伤.方法:照射质粒DNA吸附于云母表面,用AFM观察DNA的分子结构;用琼脂糖凝胶电泳检测开环和超螺旋结构的质粒DNA相对含量变化.结果:AFM下清晰观察到开环、线性和超螺旋结构的质粒DNA分子.在2 Gy α粒子照射下,开环质粒DNA的比例就明显增多,并随照射剂量的增加而上升.相比之下,γ射线需要更大剂量照射才能产生同等的损伤效应.结论:本文获得了AFM下辐射所致DNA损伤的直观图像,体外照射下α粒子对DNA的损伤大于γ射线.