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目的探索一种简单、有效、经济的正畸支抗方法。方法安氏Ⅰ类错胎患者20例，拔除4颗第一双尖牙，试验组和对照组各10例，分别采用将第一、二恒磨牙带环焊接在一起或将相邻两个分开粘接的磨牙带环结扎在一起的方法来增强正畸支抗。通过头影测量和模型分析，比较正畸治疗前后2组上下颌第一恒磨牙及切牙的位置变化。结果治疗前后试验组上颌磨牙在近远中方向和龈验方向上位置的变化量均比对照组小，差异有统计学意义；试验组上前牙在近远中方向上位置的变化量则比对照组大，差异有统计学意义。正畸治疗后试验组上颌第一恒磨牙近中移动量占拔牙间隙量