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材料Au/nGaN在600℃温度淬火后,利用电流-电压测量、XPS谱研究金Au和n型GaN半导体形成的接触势垒。电流-电压测量得到肖特基势垒平均高度和理想因子分别为1.24eV、1.03,理想因子为1.12的势垒最大高度为1.35eV。XPS数据表明:600℃温度的淬火导致能带向上弯曲0.35eV,随着金的沉积在同一方向产生进一步的能带弯曲0.25eV。我们的结论可以用Cowley-Sze模型来解释,结论表明:在GaN表面有受主态密度