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大规模高密度的集成电路在测试中遇到了测试数据量大，测试时间长等问题。对此，本文提出了一种带有折叠集的完全测试方案。该方案利用RAS（Random access scan）结构控制经输入精简的扫描单元，先生成若干折叠集检测电路中大部分的故障，然后直接控制扫描单元生成剩余故障的测试向量。本方案生成的折叠集故障检测率高，所需控制数据少。实验数据表明与同类方法相比，本方案能有效减少测试数据量和测试时间。