论文部分内容阅读
报道了Si-SiGe-Si异质结双极晶体管的数字模拟结果。采用有限差分法解半导体器件的载流子输运方程,求出各点上的载流子浓度及其电位,由此可确定器件的直流特性。器件的发射区掺杂浓度为1.4×10<sup>17</sup>cm<sup>-3</sup>,基区掺杂浓度为7×10<sup>18</sup>cm<sup>-3</sup>,SiGe基区中Ge摩尔含量为0.31,模拟得到的最高电流增益为