MCM基板电路中的短路和断路的自动光学检测算法

来源 :电子工业专用设备 | 被引量 : 0次 | 上传用户：ccc1A2B3C

【摘要】

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介绍了MCM基板自动光学检测算法。该算法包括二值化处理，数学形态学中的开运算和闭运算、骨架化算法，以及特征提取和特征比对。该算法能够快速准确地抽取MCM基板电路中的主要特

【作者】

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【机构】

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中国电子科技集团公司第四十五研究所

【出处】

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电子工业专用设备

【发表日期】

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2006年2期

【关键词】

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介绍了MCM基板自动光学检测算法。该算法包括二值化处理，数学形态学中的开运算和闭运算、骨架化算法，以及特征提取和特征比对。该算法能够快速准确地抽取MCM基板电路中的主要特征，并且在有效放大短路和断路特征之后检测出缺陷。

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