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本文从多方面研究了电容规的计量学特性。研究表明高压测量用规的零点稳定性主要受外界温度的影响,而低压测量电容规的零点在外界温度缓变时主要受膜片稳定性、线路稳定性等内在因素的影响。分析了温度突变对零点及测量的影响,指出了低压测量规零点的单调漂移性,指出了膜片受力发生形变对测量的严重影响。推导出了计算不确定度的公式。提出了一些有关电容规精密计量应用和一般使用方面的重要建议。研究结果对于电容规用作传递标准规、副标准规及精确测量规来说都具有重要的实用价值。