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测试封装是实现SOC内部IP核可测性和可控性的关键，而扫描单元是测试封装最重要的组成部分．然而传统的测试封装扫描单元在应用于层次化SOCs测试时存在很多缺点，无法保证内部口核的完全并行测试，并且在测试的安全性，功耗等方面表现出很大问题．本文提出一种改进的层次化SOCs测试封装扫描单元结构，能够有效解决上述问题，该结构的主要思想是对现有的扫描单元进行改进，实现并行测试的同时，通过在适当的位置增加一个传输门，阻止无序的数据在非测试时段进入IP核，使得口核处于休眠状态，保证了测试的安全性，实现了测试时的低功耗．