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表面等离激元共振显微镜(Surface Plasmon Resonance microscopy,SPRm)与电位调制的联用可用于分析自组装膜(Self-Assembled Monolayer,SAM)控制下电极表面不同距离的纳米颗粒.对单纳米颗粒的SPRm 图像强度(DC 成分)及对电位的响应(由快速傅里叶变换得到的振幅图像,或AC 成分)进行了检测及分析.结果显示:DC 图像强度与SAM 层的厚度无任何关系,但图像的AC 成分对厚度变化具有较高的灵敏度,这一现象可以用表面阻抗及表面电位与单纳米颗粒和电