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对于正面光入射的InP／InGaAs探测器，入射光会在空气、增透膜、InP盖层和InGaAs层之间发生多次反射。为了研究其对光响应度的影响，我们测量发现：探测器的光响应度会随探测波长出现非平坦的峰谷曲线，并且通过对该曲线上峰谷波长的简单数学处理，可以提取出已封装器件的结构参数和材料参数，而且这些参数与实验曲线符合得很好。利用该方法可以简单方便地提取出已封装器件的实际结构参数和材料参数。