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某抗干扰评估试验系统用于校准数据链测试设备的性能和指标,并将其溯源至国家标准,因此系统的各项指标非常高。而电磁干扰已经成为影响精度的一个重要因素,电磁屏蔽是电磁干扰控制的重要手段,也是电磁兼容设计的首要方法。本文通过对专用测试设备的结构研究,对其各个部件进行屏蔽机理分析,并提出改善其性能的方法,为设计人员在实际测试过程中提供相应的参考。