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期刊论文
光刻亚微米线条研究
光刻亚微米线条研究
来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wuchen2007
【摘 要】
:
本文根据惠更新-菲涅耳原理,研究了提高光刻分辨率,提高光刻套准精度和在制版困难的条件下光刻亚微米线条的几种方法;并用实验证实了结论。
【作 者】
:
赵友洲
【机 构】
:
航空航天工业部骊山微电子公司
【出 处】
:
微电子学
【发表日期】
:
1991年3期
【关键词】
:
光刻
集成电路
亚微米线条
Optical lithography
Micro fabrication
IC technology
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本文根据惠更新-菲涅耳原理,研究了提高光刻分辨率,提高光刻套准精度和在制版困难的条件下光刻亚微米线条的几种方法;并用实验证实了结论。
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