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从国内厂家一个实际的内核电路出发 ,对其进行 BIST插入及边界扫描测试的研究 ;在 VHDL描述的基础上 ,用 FPGA实现设计思想 ,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行 ,其过程验证了将边界扫描和 BIST技术应用于 MCM或 PCB板功能测试的可行性。
边界扫描结构下的BIST内核及FPGA实现
【摘 要】
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从国内厂家一个实际的内核电路出发 ,对其进行 BIST插入及边界扫描测试的研究 ;在 VHDL描述的基础上 ,用 FPGA实现设计思想 ,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行 ,其过程
【出 处】
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桂林电子工业学院学报
【发表日期】
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2000年1期
【基金项目】
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“九五”国家科技预研项目 !(编号 :3 0 .2 .5 .1)
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