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全扫描结构可测性设计方法的研究
全扫描结构可测性设计方法的研究
来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:qinglinqiuyi
【摘 要】
:
探讨了在Synopsys软件中用全扫描结构实现数字电路可测性设计中遇到的问题及解决方法,如扫描结构的基本结构、测试的时序等问题.扫描结构对电路本身的结构有严格的要求,重点
【作 者】
:
祝永明
唐长文
闵昊
【机 构】
:
复旦大学
【出 处】
:
微电子学
【发表日期】
:
2002年3期
【关键词】
:
扫描结构
数字电路
可测性设计
微电子
Digital IC
Design for testability
Scanning structure
Desi
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探讨了在Synopsys软件中用全扫描结构实现数字电路可测性设计中遇到的问题及解决方法,如扫描结构的基本结构、测试的时序等问题.扫描结构对电路本身的结构有严格的要求,重点讨论了扫描结构对电路结构的限制及对违反限制的电路进行修改的方法.
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