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通过分析Ga Al As红外发光二极管(IRED)的低频噪声产生机理及特性,建立了Ga Al As IRED的噪声模型,设计了一套低频噪声测试系统,通过该系统测量得到了Ga Al As IRED的低频噪声。实验表明,该方法能准确的测量Ga Al As IRED的低频噪声,发现其低频噪声主要表现为1/f噪声,得到与噪声模型一致的结果。该研究为Ga Al As IRLED可靠性的噪声表征提供了实验基础与理论依据。