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基于集成电路成品率极大中心设计，最佳容差设计，最佳调整设计和生产费用极小化设计的一体化模型（ＤＣＴＴ模型），该文给出了函数序列凸化下求解ＤＣＴＴ的有效方法。该方法应用确定性方法和正交最优化方法相结合，将容差域的２￣ｎ个顶点离散为ｎ＋１个约束条件，并利用不可微规划直接得到ＤＣＴＴ问题的最优解。该方法较好地解决了较大规模的集成电路统计最优化问题。