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对高精细度光学腔的微弱损耗进行了测量.利用不同扫描速度下的腔衰减振荡信号,得到了腔的衰荡时间.通过与相同镜面组成的超短微腔的直接精细常数的测量对比,说明了这种方法的可靠性.本实验通过对所得到的光腔衰荡信号的衰荡时间、衰荡强度变化进行计算处理得到光学腔的精细度为F=(2.13±0.09)×105;得到腔镜的反射率为R=0.0999852±0.0000006,即腔的总损耗为(29.50±1.24)ppm.由于该腔的线宽在100kHz以下,远低于一般的半导体激光器线宽,因此可以利用此腔来测其线宽.实验中测得DBR半导体激光器的线宽为1.49MHz.