扫描隧道显微镜功函数信息成像方法

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在自行研制的超高真空扫描隧道显微镜基础上,利用信号调制技术,建立了表面功函数信息成像方法,介绍STM功函数信息成像方法的原理,并利用该方法同时获得样品表面同一区域的形貌信息和功函数信息像。结果表明,利用功函数信息成像技术可以实现区分样品表面的元件及其分布。
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