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介绍了用于中子探测器效率刻度的薄壁快脉冲^252Cf裂变电离室。在用飞行时间法测量中子能谱时，该裂变电离室能够给出^252Cf裂变中子发射时刻信号，输出脉冲上升时间约为5．5ns，电离室由厚度为0．15mm的不锈钢构成。测试结果表明，对裂变碎片的探测效率为99．2％，α粒子脉冲幅度和碎片脉冲幅度可清晰分开。