论文部分内容阅读
目的:为了提高芯片测试工序的测试产能,通过改进分立器件芯片测试工序的设备管理与流程,降低生产设备的故障率。方法:采用精益六西格玛,并通过其定义、测量、分析、改进、控制5个步骤研究,改进我公司分立器件芯片测试工序的设备管理与流程。结果:设备故障率由改进前的2.5%降低到1.4%。结论:精益六西格玛可减少设备管理与流程中存在的缺陷,降低分立器件生产设备的故障率,以便进一步提高芯片测试产能和设备管理水平。