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VLSI成品率重心游移算法的一个几何解释
VLSI成品率重心游移算法的一个几何解释
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:flyingmomo1986
【摘 要】
:
超大规模集成电路(VLSI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题.尽管重心游移算法提出得较早,由于其固有的优点目前仍被研究和推广.文中从一个新的
【作 者】
:
荆明娥
郝跃
【机 构】
:
西安电子科技大学微电子研究所
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2004年5期
【关键词】
:
参数成品率
MONTE
CARLO方法
重心游移算法
启发式算法
parametric yield
Monte Carlo method
center of g
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超大规模集成电路(VLSI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题.尽管重心游移算法提出得较早,由于其固有的优点目前仍被研究和推广.文中从一个新的角度,即几何学原理上探讨了最优的重心游移算法的原理,使最优方向的几何图像更加明确。
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