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通过离子注入及中子嬗变掺杂制备了Ga（镓）掺杂^70Ge（锗）纳米晶，并对样品进行了质子激发X射线荧光分析谱（PIXE）、光致发光谱（PL）、激光拉曼散射谱（LRS）的测量与研究．结果表明：随着Ga杂质浓度的增加，580nm附近的荧光峰的发光强度不断地下降，这可能是非辐射的俄歇复合过程与纳米晶数量的减少共同作用的结果．此外，从PL上面看到580nm附近的荧光峰蓝移则可能是由纳米晶尺寸的减小和非辐射的俄歇复合过程引起的．