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期刊论文
发光二极管外延片质量控制的新方法
发光二极管外延片质量控制的新方法
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:meng8500
【摘 要】
:
介绍了一种利用新型发光二极管外延片光致发光光谱在线检测仪对GaP发光二极管外延片进行在线无损检测和质量控制的方法。通过对检测结果的统计分析,得出了对生产工艺的改进意
【作 者】
:
苏哲
董占民
等
【机 构】
:
清华大学物理系
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2002年12期
【关键词】
:
发光二极管
外延片
质量控制
光致发光
无损检测
光电器件
epiwafer
photoluminescence
indestructible examinat
【基金项目】
:
国家高技术研究发展计划资助项目 (编号 :863 -715 -714 -0 110 )~~
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介绍了一种利用新型发光二极管外延片光致发光光谱在线检测仪对GaP发光二极管外延片进行在线无损检测和质量控制的方法。通过对检测结果的统计分析,得出了对生产工艺的改进意见。最终实现了提高GaP外延片质量的目的。
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