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EStar是国防科技大学计算机学院自主开发的一款高性能低功耗32位嵌入式微处理器。本文针对EStar微处理器的可测性设计和片上调试的技术和应用需求，深入地研究了可测性设计和片上调试技术。完成的主要工作和取得的主要研究成果如下： 1．设计实现了EStar微处理器的边界扫描结构，并基于JTAG接口实现了测试与调试整合的系统调试测试方案。 采用了自主设计扫描单元和手动插入扫描链的方法，设计实现了EStar嵌入式微处理器的边界扫描测试，极大的提高了设计的灵活性，为调试与测试的接口整合提供了支持；针对EStar微处理器设计了基于JTAG接口的系统测试方案，通过JTAG接口集成内部扫描测试和存储器的内建自测试功能，极大的减少了因测试带来的芯片引脚的增加，有效的减小了芯片封装后的面积。 2．设计了EStar微处理器的片上调试逻辑，解决了片上调试的多个关键技术，为应用开发提供了有效的支持。 设计实现了EStar嵌入式微处理器的基于JTAG接口片上调试支持逻辑功能。通过扫描链结构提供高效的调试通信和控制通道；通过对流水线的运行控制，实现了单步、断点、观察点等基本调试特征；提出的存储空间访问机制能够很好的适用于基于EStar嵌入式微处理器的SoC应用平台，具有良好的扩展兼容性。该片上调试系统为EStar的应用开发提供了有效的支持。 3．提出了基于EStar微处理器调试机制的应用开发调试方案，完成了软件结构和关键部件的设计与实现，为应用平台的开发打下了良好的基础。 嵌入式应用开发调试环境是基于嵌入式微处理器的调试支持的一种远程交叉调试软件，它是嵌入式应用开发所必需的。本文通过深入研究几种常见的嵌入式应用开发调试环境，提出了基于EStar嵌入式微处理器现有调试支持的可行的应用开发调试方案，并给出了软件的结构和关键部件的详细设计，为进一步研制EStar嵌入式微处理器应用开发平台打下了良好的基础。 本文所设计的硬件逻辑，经过EStar嵌入式处理器的投片验证，实现的边界扫描测试和片上调试逻辑运行正确、功能稳定。系统测试方案通过EDA软件分析与测试，能为芯片的量产提供生产测试的支持。