特征X射线相关论文
基于狭义相对论的基本观点,研究了特征X射线的产生机理,分析了电子自旋轨道耦合对特征X射线波长的影响,导出了一个计算特征X射线波......
低能正负电子致原子内壳层电离截面的测量研究在理论和实际应用方面都有着重要意义。在理论研究方面,目前已提出的相关理论模型需......
用高电荷态离子129Xeq+(q=25,26,27)轰击金属Au表面,产生Au原子的特征X射线谱.实验结果表明,足够高的电荷态低速离子激发靶表面原......
分析了高功率Z箍缩产生keV级特征X射线辐射的物理机理和用于计算等离子体K层辐射二能级模型,给出了采用二能级模型进行数值模拟的......
由于设计的需要，利用铜靶、铁靶进行了特征X射线的产额与靶源的距离、靶源夹角关系的实验研究，当靶源距离越近、靶源夹角为70＆#176;时......
本文主要介绍了利用同位素X射线荧光分析方法在陕西青铜沟汞锑矿对汞锑元素分析的方法研究与应用效果.阐述了如何用X荧光分析方法......
分析了在用天然放射性232Th衰变系的低能X射线进行HPGe γ谱仪的效率刻度时出现系统偏差的原因,并就此对实际应用中应注意的问题进......
以直流X射线光机为基础,利用元素具有特征X射线和吸收边的原理,通过设置荧光靶、滤光片,滤除不同元素K层特征线中的K_β线,研制了......
一直以来,X射线谱的准确测量十分困难,而传统的能谱仿真方法无法全面的考虑射线产生过程中的所有物理过程,因而无法准确的模拟射线......
论述了透射式特征X射线测厚原理,并对样机的硬件组成特征X射线发生装置、X射线探测器、数据处理器和监控软件进行了介绍。通过对测......
X射线荧光光谱法的基本原理是当物质中的原子受到高能辐射的激发后,发射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的......
利用能谱仪（energy dispersive spectrometer, EDS）及蒙特卡罗方法（Monte Carlo method）确定金（Au）镀层厚度.使用不同加速电压对试样表面......
蒙特卡罗模拟技术可以有效提高核辐射探测分析效率、降低分析成本，在促进X荧光分析技术发展过程中也发挥了重要作用。在应用蒙特卡......
原位能量色散X射线荧光现场分析岩样矿物成分时,岩样基体效应会对测量结果产生影响。本文以Cu元素作为待测元素,研究了17种不同岩......
硅漂移(SDD)探测器是一种基于侧向耗尽原理的核辐射探测器。这种探测器因为比一般Si(Li)探测器输出电容小、电子噪声小、且只要简......
随着工业上表面处理工艺的发展和提高,许多机器和仪器的构件以及装饰物表面都涂上一层涂料,涂层厚度的控制一直以来都是产品的一项......
为了探究金属特征X射线空间角分布,采用蒙特卡罗（Monte Carlo）方法模拟238Pu源照射金属样品激发特征X射线过程,通过改变放射源的入射......
随着材料科学的发展日新月异,纳米物质在材料领域的应用愈加广泛。由于纳米材料具有突出的表面效应、小尺寸效应和量子限域效应,因......
在氢气放电源打靶的实验中,测到了系列能量恒定不变的低能X射线新谱线,这些新谱线的能量分别为（1.70±0.10）keV,（2.25±0.07）k......
目前,扫描电子显微镜-能谱（SEM-EDS）联用技术在分析测试领域已得到广泛应用,它可对材料和生物样品的微观表面进行形貌观察,并对样品......
本文介绍了一种用电子探针波谱仪对元素化学状态进行定量分析的方法:分析元素不同化学状态相关特征X射线的差异,选取有代表性的波......
为研究微型X射线管的特性，通过电离室测量光管出射口30cm远处的空气比释动能，使用高纯锗探测器分别测量了Ag过滤和Cu过滤下的X射线能......
测量了由中心能量为13.1 keV的韧致辐射轰击金纳米颗粒所产生的L系特征X射线,探测器在100°到140°范围内,以10°为间......
为研究爆炸物示踪安检技术,以各类工业炸药为基体,均匀混合微量示踪剂,采用能谱检测方法,通过探测示踪元素的特征X射线,对示踪剂质......
微区能量色散X射线荧光光谱仪（μ-EDXRF）是进行物质微区成分分析和元素分布分析的工具,在定性和半定量分析中发挥着重要的作用,被广......
扫描电子显微镜是一种微观形貌表征手段,具有视野大,分辨率高等优点。本文对扫描电子显微镜的二次电子、背散射电子及特征X射线三......
采用中心能量为13.1 keV(最大能量小于30 keV)的轫致辐射光子碰撞Au靶,在130°—170°的探测角度范围内以10°为间隔,......
根据"在低加速电压下,电子束在样品中产生的扩散区小"的原理,对各类样品做了一些实验性的研究工作,结果发现:在7.5kV加速电压下,对......
针对X射线能谱仪在对样品进行定性分析时经常出现的元素谱峰重叠问题，进行机理分析和归纳总结，提出在物证检验中如何避免谱峰重叠带......
X射线荧光分析技术，是利用原级X射线激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X射线荧光），从而进行物质成分分析的方法。1948年，H.......
针对某一特定元素的特征X射线进行探测,激发源能量的选择是重要指标之一。本文利用蒙特卡罗的MCNP4C程序,研究分析不同能量的激发......
介绍了特征X射线的测厚原理、测厚系统组成及数据处理方法，并利用铜和铁的特征X射线对纸张厚度进行了实验研究；当被测量纸张的厚度从......
氚分析在聚变堆与核技术的研究中有着广泛的应用。BIXS技术(β衰变诱发X射线谱技术)是一项无损的氚分析技术,该技术的分析深度对于......
电子探针（EPMA）在地质找矿上常用于样品的矿物组成及分布研究。利用电子束照射样品表面时产生的特征X射线,可以在样品表面进行微区的......
