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研究了H^+注入对SrBi2Ta2O9(SBT)铁电薄膜的晶体结构和电学性质的影响,并与含氢气氛退火作了比较,进而研究了O^+注入对SBT铁电薄膜电学性质的影响。发现室温O^+注......