采用水热法在FTO(fluorine-doped tin oxide)基底上制备不同形貌的锐钛矿结构TiO_(2)薄膜。通过不断增大反应前驱物中盐酸浓度,TiO......

HfO2薄膜厚度达到纳米级别时，其光学性质会发生变化。光谱椭偏仪能够同时得到纳米尺度薄膜的厚度和光学常数，但是由于测量参数的关联......

利用溶胶-凝胶法于硅基片表面制备SiO 2及Eu^n＋ ∶SiO 2单层及多层薄膜。通过X射线衍射仪（XRD）、傅里叶红外光谱仪（FT-IR）、接触角测量......