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Ni凸点下金属化层相关论文
倒装芯片Ni/Sn-3.0Ag-0.5Cu/ENEPIG(OSP)无铅焊点的电迁移行为
随着电子产品向微型化和集成化发展,钎料凸点的尺寸持续减小,通过焊点的电流密度持续升高。当倒装芯片焊点直径降低到50μm时,通过......
学位
电迁移
倒装芯片
Sn-3.0 Ag-0.5Cu钎料凸点
Ni凸点下金属化层
金属间化合物
化学镀镍钯浸金表面处理
有机可焊性保护层表面处理
热电耦合模拟
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