XPS测量相关论文
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用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）技术分析了由ＰＡＮ（聚丙烯腈）薄膜所制得的炭膜中碳，氮和氧三种元素的结合状态，在ＰＡＮ原膜中ＣＩｓ峰，Ｎｌｓ峰和Ｏｌｓ峰的结合能分别为２８４．６ｅｖ，３９９．４ｅｖ和５３１．７５ｅｖ。在整个......
测量了正交和正方YBa_2Cu_3O_y化合物的XPS谱线的温度关系。对手超导化合物的Cu2p伴随峰的变化与从氧量确定的Cu原于价的变化相符......
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