元件缺陷相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

元件缺陷相关论文

椭偏技术在波片测量中的应用研究

椭圆偏振测量技术的本质是测量光束从被测材料反射或者透射前后偏振状态的改变。这种偏振状态的变化量通过幅值比ψ和相位差△来表......

学位

椭圆偏振测量相位延迟量四区域法波片测量元件缺陷

四区域法消除偏振棱镜缺陷对波片相位延迟测量的影响

在起偏器-待测波片-检偏器系统基础卜提出一种四区域测量波片相位延迟量的方法.调整待测波片和检偏器的方位角,获得相应的四组光强......

期刊

光学测量相位延迟四区域法波片元件缺陷

看过本文同时还关注